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可干涉长测定机︱DTM-CLMI.jpg

使用了1/4波长板和PBS的偏光迈克耳逊干涉仪，可测试半导体激光器的背景光的可干涉长度。

首先使用He-Ne激光光源，调整好干涉仪，然后使用平台把反射镜移开，入射一束准直的半导体激光束。使用偏光板过滤掉激光成分，仅让背景光到达摄像头。一点一点地耐心调试可动反射镜找到出现干涉条纹的位置。可以观测到干涉条纹的范围便是其可干涉长度了。

可干涉长测定机︱DTM-CLMI 条纹.jpg

可干涉长测定机︱DTM-CLMI技术参数.jpg

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