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    • 2024-11-01 15:57:05

      地面高光谱系统 YUL-300-Pro

      YUL-300-Pro地面高光谱系统采用坚固可靠的光路结构系统+高灵敏度探测器,结合多年积累的基于专利技术的独特光谱学算法,确保了野外地物光谱测量具有优秀的波长准确性和光谱分辨率。波长响应范围为300nm-2500nm,该款地面高光谱系统除具有多种测量模式外,同时可提供实时自动暗...

    • 2024-10-10 15:58:43

      透镜光纤

      透镜光纤是将光纤端面按多斜面或圆锥等精加工处理,顶部纤芯处平面或者球面处理,以满足特殊的光路、光斑、耦合需求。

    • 激光加工系统-激光扩束镜组件

    • 激光加工系统-可变衰减器使用PBS和波片,实现高功率激光能量的连续可调

    • 使用了高功率激光用反射镜和安全终止光路的扩散器

    • 激光加工系统-加工控制软件使用摄像头边观察加工位置,同时可在画面上设定加工图形和加工区域的控制软件。并整合了多个激光波长和照射条件的切换,物镜切换以及平台控制等功能。支持使用DXF格式的CAD数据,同时适用于开发试制和批量生产。

    • 激光加工系统-扫描尊龙凯时系统和聚光尊龙凯时系统无掩模光刻,一般根据CAD数据进行直描加工。根据扫描方法不同,可分为扫描尊龙凯时系统和聚光尊龙凯时系统。(也有两者结合的混合型)

    • 正立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-S系列适用波片或培养皿的高精度自动载物台。▶适用于奥林巴斯BX系列,尼康80i·50i的各种正立显微镜。▶可以把原有的手动载物台改换为精密定位自动载物台。▶有不与照明聚光镜相互干扰的薄体标准型,薄体长行程型。

    • 显微镜用自动XY轴载物台系统 BIOS适用于透过 · 落射照明的各种显微镜。在所有的样品检查·图像获取中发挥作用。利用内置的线性光栅的反馈控制可以进行高精度的重复定位。倒立显微镜用XY轴载物台系统 BIOS-T系列可以方便地搭载在现有的显微镜上的高精度自动载物台。▶适用于奥林巴斯...

    • 2024-09-25 10:15:20

      正立型BIOS-Light

      正立型BIOS-Light &BIOS-LS-S低价提供显微镜用XY平台。▶标准配件可选配,构建系统成本低廉。▶附属控制用软件。▶可连接操纵杆控制器(选购件)▶也可被用作透过型平台。

    • 2024-09-24 10:09:48

      倒立型BIOS-Light

      低价提供显微镜用XY平台。▶标准配件可选配,构建系统成本低廉。▶附属控制用软件。▶可连接操纵杆控制器(选购件)▶也可被用作透过型平台。

    • 2024-09-19 10:01:57

      显微镜用快门系统

      显微镜用快门系统 BSH2显微镜用电磁快门系统。可以组装到现有的显微镜中使用,装拆方便。非常适用于多时段或荧光观测等的显微镜观测。▶开口径为φ25mm的中心对称圆形开放型快门。▶控制器可选购1轴用,或2轴用的型号。▶借用演示程序[BSH-Demo-Software]可方便地实现计...

    • 利用红外线的遗传因子发现系统 IR-LEGO Systems在显微镜下,可发现指定细胞的遗传因子的系统▶利用近红外激光进行局部加热的方式。▶通过显微镜可发现细胞的特定遗传因子。▶可用于倒立型显微镜和正立型显微镜。

    • 2024-09-17 10:17:58

      光镊Mini

      光镊Mini -LMS低价格的光镊Mini型产品。▶使用激光束,非接触地捕捉显微镜下的细胞或生体组织。▶选用了近红外(1064nm)波长,最大限度地抑制了对细胞或生体组织的影响。▶可捕捉0.2〜20μm左右的微粒子。▶和另售的显微镜用XY自动平台配合使用,可把被捕捉的物体移动到任...

    • 2024-09-12 11:37:48

      微操作系统MMS

      微操作系统MMS利用光镊对细胞或生物分子进行自由操作。▶在显微镜观察下,可以利用激光束的非接触方法,对细胞或生物分子进行捕获,移动操作。▶激光捕获使用近红外(1064nm)激光,最大限度地抑制了对细胞或生物分子的损害。▶可以捕捉0.2〜20μm左右的微粒子。▶2光束尊龙凯时系统可以对...

    • 2024-09-11 11:04:40

      反射率测量仪

      反射率测量仪SGRM-200N可实现微小区域和曲面的反射率测量。可直接测量未经处理的透明薄板的反射率,并能几乎不受底面反射的影响;可快速高精度测量曲面和平面的反射率。▶采用了特殊结构的半透镜,能高效地收集被测试样的反射光,并高效地导入分光光度计,可快速地完成低反射率样品的测量。▶...

    • 圆偏光测定装载▶采用立式透过尊龙凯时系统的偏光尊龙凯时件特性评价系统▶只需把被测样品放置到台架上就可完成测定。▶可测定分光相位差,偏光分光特性,透过偏光比等。

    • 内部应变检查装置▶可观测纹理,加工应变等,样品内部的应变的装置。▶可把内部应变的分布和变化录像。

    • 样品特性测定装置▶任意偏光光源,样品保持机构,偏光测定装置的组合,可完成样品的特性的测定。▶可构建透过型或反射型。▶反射型即可测偏光特性,也可用作椭圆偏振光法(Elipsometry)。

    • 偏光测定装置▶计测和解析入射光束偏光状态的装置。▶可求入射偏光的斯托克斯参数S0〜S3。

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